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X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

详细介绍

用途:

牛津X-Strata920是牛津仪器最新发布的新一代X射线荧光(XRF)镀层测厚仪,仅需10秒即可得出测量结果,是CMI900的升级版,改进了系统安全部件,更新了软件系统,测量结果可进行多样化的输出。适用于大多数行业,是质量控制、节约成本的最佳检测工具。

 

参数:                          

测厚范围:

取决于具体的应用。 

测量精度:

膜厚≤20µin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±1µin,第二层±2µin,第二层±3µin

膜厚>20µin(0.5um)时,测量误差值为:第一层±5%,第二层±10%,第二层±15%。

特点:

  1. 以更有效的过程控制来提高生产力,有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化。

  2. 卓越的分析性能。

  3. 无与伦比的性价比。

  4. 快速分析多达4层镀层及15种元素。

  5. 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都要带来利益。

  6. 操作简单,只需要简单的培训。

  7. 超大样品台,便于大面积样品测量,比如印刷电路板。

  8. 坚固耐用,把停工期降到最少。

  9. 更好的稳定性及长期可靠性。

  10.     新的外观设计。

  11.     工作寿命延长。

  12.     新的安全特征确保数据完整性。

  13.     可定时的“自动锁机”功能。

  14.     防止未授权操作。

  15.     改进的报告能力。

  16.     与Microsoft Excel无缝联接。




本文网址:http://www.andrasuchy.net/product/556.html

关键词:昆山澳客彩网电子有限公司,牛津仪器,X-Strata920荧光射线镀层测厚仪

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